2026-10-21T04:23:14Zhttps://ebyu-rdlopen.rawdatalibrary.net/oai/request

oai:ebyu-rdlopen.rawdatalibrary.net:ebyu/270362026-10-20T22:45:24Zopenairedrivercom_ebyu_10007col_ebyu_25981col_ebyu_25969

Seyreltme tekniği kullanılarak farklı şiddet oranlarının ortalama atom numarası ile değişiminin incelenmesiInvestigation of the different intensity ratios with mean atomic number using dilution techniqueMehmet Fatih TemizDoç. Dr. Tuba AkkuşX rayX ray spectrometerX ışınıX ışını spektrometresiBu çalışmada kalitatif analiz için farklı şiddet oranlarının ortalama atom numarası ile değişimi EDXRF sisteminde araştırılmıştır. Çalışmada on dört farklı numune kullanılmıştır. Ortalama atom numaraları 9,743 ile 83 arasında olan numuneler bizmut ve selüloz tozlarının farklı oranlarda karıştırılmasıyla elde edilmiştir. Numuneler Am-241 kaynağından çıkan 59,54 keV enerjili fotonlar ile uyarılmıştır ve 5,9 keV'de 182 eV rezolasyona sahip bir HPGe detektör kullanılmıştır.In this study, the variation of different intensity ratios with the mean atomic number was investigated in the EDXRF system for qualitative analysis. Fourteen different samples were used in the study. Samples with average atomic numbers between 9,743 and 83 were obtained by mixing bismuth and cellulose powders in different proportions. The samples were excited by photons with 59.54 keV energy emanating from the Am-241 source and an HPGe detector with 182 eV resolution at 5.9 keV was used.Erzincan Binali Yıldırım University2023Master Thesishttps://rdlopen.rawdatalibrary.net/r/ebyu/27036trinfo:eu-repo/semantics/openAccessinfo:eu-repo/semantics/masterThesishttps://ebyu-rdlopen.rawdatalibrary.net/tr/items/ebyu/27036