SILAR ve Dönel Kaplama Yöntemleri Kullanılarak Büyütülen ZnO İnce Filmlerin Yapısal, Yüzeysel ve Optik Karakterizasyonu
ArticleAçık Erişim
Özet
Bu çalışmada, ZnO ince filmler sırasıyla (1 1 1) yönelimli n-tipi ve (1 0 0) yönelimli p-tipi Si altlıklar üzerine SILAR ve dönel kaplama (spin-coating) yöntemleri kullanılarak büyütülmüştür. Numunelerin XRD, SEM ve PL ölçümleri alınmıştır. XRD sonuçları, ZnO piklerinin varlığını göstermiştir. SEM sonuçları, yüzeylerin her iki yöntemde de homojen olduğunu ve SILAR yöntemiyle büyütülen örneklerde nano çubukların bulunduğunu göstermiştir. PL sonuçları, numunelerin farklı dalga boylarında ışık yaydığını göstermiştir. Örneklerden farklı güçler altında PL ölçümleri alınmış ve yorumlanmış ve bir örneğin artan uyartım gücü ile daha yüksek bir emisyon yoğunluğuna ulaştığı tespit edilmiştir.
Anahtar Kelimeler
RDL Kalıcı Bağlantı (PID)
https://rdlopen.rawdatalibrary.net/r/ebyu/18270Resmi atıflarda kullanılan kalıcı adresTam Kayıt
| Alan | Değer | Dil |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | ÖZDEN, Melih | |
| dc.contributor.author | DUMAN, Çağlar | |
| dc.date.accessioned | 2026-10-18T20:56:28.714656432Z | |
| dc.date.available | 2026-10-18T20:56:28.714656432Z | |
| dc.date.issued | 2022 | |
| dc.description.abstract | Bu çalışmada, ZnO ince filmler sırasıyla (1 1 1) yönelimli n-tipi ve (1 0 0) yönelimli p-tipi Si altlıklar üzerine SILAR ve dönel kaplama (spin-coating) yöntemleri kullanılarak büyütülmüştür. Numunelerin XRD, SEM ve PL ölçümleri alınmıştır. XRD sonuçları, ZnO piklerinin varlığını göstermiştir. SEM sonuçları, yüzeylerin her iki yöntemde de homojen olduğunu ve SILAR yöntemiyle büyütülen örneklerde nano çubukların bulunduğunu göstermiştir. PL sonuçları, numunelerin farklı dalga boylarında ışık yaydığını göstermiştir. Örneklerden farklı güçler altında PL ölçümleri alınmış ve yorumlanmış ve bir örneğin artan uyartım gücü ile daha yüksek bir emisyon yoğunluğuna ulaştığı tespit edilmiştir. | |
| dc.identifier.doi | 10.18185/erzifbed.1101771 | |
| dc.identifier.eissn | 2149-4584 | |
| dc.identifier.endpage | 941 | |
| dc.identifier.issn | 1307-9085 | |
| dc.identifier.issue | 3 | |
| dc.identifier.startpage | 931 | |
| dc.identifier.uri | https://rdlopen.rawdatalibrary.net/r/ebyu/18270 | |
| dc.identifier.volume | 15 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.relation.ispartof | Erzincan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.subject | Nanobilim ve Nanoteknoloji | |
| dc.subject | Malzeme Bilimleri | |
| dc.subject | Özellik ve Test | |
| dc.subject | Mühendislik | |
| dc.subject | Kimya | |
| dc.subject | Seramik | |
| dc.title | SILAR ve Dönel Kaplama Yöntemleri Kullanılarak Büyütülen ZnO İnce Filmlerin Yapısal, Yüzeysel ve Optik Karakterizasyonu | |
| dc.type | Article | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| rdl.citation.trdizin | 0 | |
| rdl.department | ERZİNCAN BİNALİ YILDIRIM ÜNİVERSİTESİ | |
| rdl.department | ERZURUM TEKNİK ÜNİVERSİTESİ | |
| rdl.source.index | TRDIZIN |
