Araştırmacılar(2)

• Astam, Aykut
• Solakyildirim, Tuba

• ArticleAçık Erişim2024/r/ebyu/19871
  Tavlama İşleminin SILAR Tekniğiyle Elde Edilen Cu3SnS4 İnce Filmlerin Yapısal ve Optik Özellikleri Üzerine Etkisi

  Astam, Aykut; Cemal, Çetin

  Cu3SnS4 ince filmler, sıralı iyonik tabaka adsorpsiyonu ve reaksiyonu (SILAR) tekniği kullanılarak cam altlıklar üzerine oda sıcaklığında büyütüldü ve azot atmosferinde farklı sıcaklıklarda tavlanarak büyütme sonrası tavlama işleminin filmlerin yapısal ve optik özellikleri üzerindeki etkileri incelendi. Filmlerin yapısal, yüzey morfolojik ve optik özellikleri X-ışını kırınımı (XRD), taramalı elektron mikroskobu (SEM), enerji dağılımlı X-ışını analizi (EDAX), Raman spektroskopisi ve optik soğurma ölçümleri kullanılarak incelendi. XRD sonuçları, filmlerin tavlama öncesinde tetragonal Cu3SnS4 fazından oluştuğunu, tavlama sıcaklığının arttırılmasının kristal yapının iyileşmesine ve Cu4SnS4, Cu2S ve CuS ikincil fazlarının oluşmasına neden olduğunu ortaya çıkardı. SEM görüntüleri, filmlerin nanometre boyutunda rastgele şekilli parçacıklardan oluştuğunu gösterdi. EDAX ölçümleri Cu, Sn ve S elementlerinin varlığını ve ayrıca tavlama sıcaklığının artmasıyla Sn ve S elementlerinin miktarlarının azaldığını ortaya koydu. Raman spektrumları Cu3SnS4 fazının ve yüksek tavlama sıcaklıklarında Cu4SnS4, Cu2S ve CuS ikincil fazlarının oluşumunu doğruladı. Optik soğurma ölçümlerinden filmlerin direkt geçişlere sahip olduğu ve artan tavlama sıcaklığıyla yasak enerji aralığı değerinin 1.62 eV'dan 1.47 eV'a azaldığı belirlendi.

  İncele
• ArticleAçık Erişim2024/r/ebyu/19850
  Effect of Hydrothermal Reaction Temperature on the Structural and Optical Properties of CuO Thin Films

  Astam, Aykut; Kaya, Ömer

  Copper oxides are one of the first semiconductors studied for device applications. In the present work, CuO thin films were deposited on fluorine-doped tin oxide (FTO) substrates via hydrothermal method without using any surfactant and the effects of reaction temperature on the properties of the films were studied. CuO thin films deposited at different reaction temperatures were characterized for their structural and optical properties using X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray analysis (EDAX), Raman spectroscopy, and optical absorption measurements. XRD results revealed that all the films consisted of polycrystalline CuO with a monoclinic crystal structure without any impurity phase. SEM images showed that chrysanthemum-like structures were formed, the number of which increased with increasing hydrothermal reaction temperature. EDAX measurements proved the existence of Cu and O elements and showed that all the films have Cu/O ratios close to unity. The Raman spectra confirmed the formation of crystalline CuO in all the films. From the optical absorption measurements, the direct forbidden energy gap values of the CuO thin films were found to be between 1.34 eV and 1.41 eV, depending on the hydrothermal reaction temperature.

  İncele
• ArticleAçık Erişim2017/r/ebyu/22683
  Structural and optical properties of Cu2SnS3 thin films obtained by SILAR method

  Astam, Aykut

  Cu2SnS3 thin films were obtained by annealing of SILAR deposited films at 350°C for 1 hour in sulphur atmosphere. The structural and optical properties of the films were investigated using X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray analysis (EDAX) and optical absorption measurements, before and after annealing. The XRD results showed that the annealing process transformed the crystal structure of the films from amorphous to polycrystalline. SEM images revealed that the surface morphology of films was changed after annealing while EDAX analysis showed that the films were excess in copper concentration before and after annealing. Optical absorption measurements confirmed that the direct band gap of films decreased from 1.27 eV to 1.21 eV with annealing.

  İncele